选择题   下面有关片上调试技术的描述语句中,不恰当的是______。
 
【正确答案】 D
【答案解析】边界扫描测试技术是对芯片或印制电路板进行片上调试最常用的一种技术;JTAG是IEEE下的一个组织,是研究测试访问端口和边界扫描结构的标准,研究结果即俗称的JTAG标准;使用JTAG进行嵌入式系统的调试,无需目标存储器,也不占用目标机任何I/O端口;对于不支持JTAG调试标准的嵌入式CPU,如MCS-51单片机,其软件固化要使用称为“编程器”的设备来进行。故本题选择D。