X型题
15.
X线头影测量的主要应用有( )。
A、
可研究颅面生长发育
B、
可对牙颌、颅面畸形作诊断分析
C、
可确定错
D、
可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E、
可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
【正确答案】
A、B、C、D、E
【答案解析】
X线头影测量的主要应用包括：①研究颅面生长发育。②牙颌、颅面畸形的诊断分析。③确定错
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