单选题
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于( )
A、
可靠性测定试验
B、
可靠性鉴定试验
C、
可靠性验收实验
D、
环境应力筛选试验
【正确答案】
D
【答案解析】
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