下面关于嵌入式系统中调试测试接口的叙述中,错误的是( )。
A、
ARM内部集成了调试测试接口
B、
JTAG是一种嵌入式测试技术
C、
具有JTAG接口的芯片不能通过JTAG接口串联在一起,然后通过JTAG分别对器件进行调试
D、
SWD是Cortex—M内核提供的一种调试测试接口
【正确答案】
C
【答案解析】
JTAG是一种嵌入式片上调试技术,用于芯片和电路板的测试。JTAG标准允许多个芯片(电路)的边界扫描寄存器BSR通过JTAG接口串联在一起,实现对多个器件的测试。故此题选择C。
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