结构推理 单侧厚度测量方法可用于哪些场合?
【正确答案】单侧厚度测量利用的是X射线在被测物体表面反射的强度与被测件的材料有关,且随被测件厚度的增大而增大的原理。适用于由于被测物体本身结构原因导致探测器和辐射源无法放在被测件两侧,从而不能放在被测件同侧来进行测量的场合。譬如测管道锅炉等的壁厚等。
【答案解析】