多选题 X线头影测量的主要应用有

A、可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析
B、可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
C、可确定错骀畸形的矫治设计
D、可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
E、可研究颅面生长发育

【正确答案】 A、B、C、D、E

【答案解析】