结构推理 冷变形金属制成薄膜在透射电子显微镜中原位加热测定再结晶温度时,发现所测出的再结晶温度较同一金属大块试样测出的再结晶温度为高,试分析产生此种情况的原因。
【正确答案】再结晶温度的高低在很大程度上受冷变形金属中储存能高低的影响,冷变形金属中储存能越高,越低。 冷变形金属制成薄膜时一部分位错在薄膜表面消失,在加热过程中,薄膜中的部分位错亦会运动到表面而消失,因而薄膜内的平均位错密度比大块试样中的低,薄膜中以位错应变能为主体的储存能也较大块试样中的为低。这就是冷变形金属制成薄膜在透射电镜中原位加热测得的比同一金属的大块试样测出的高的原因。
【答案解析】