【正确答案】ICP-AES法测定中通常存在的干扰大致可分为两类：一类是光谱干扰，主要包括谱线重叠和连续背景干扰；另一类是非光谱干扰，主要包括化学干扰、电离干扰、物理干扰等。
   常用的校正方法：首先应尽量选择干扰少的分析谱线。也可采用空白校正、稀释校正、内标校正、背景扣除校正、干扰系数校正、标准加入法校正。