【正确答案】 B

【答案解析】可测试设计的三个方面是测试生成、测试验证和测试设计。测试生成是指产生验证 IC芯片行为的一组测试码。测试验证指给定测试集合的有效性测度，这通常是通过故障仿真来估算的。测试设计是设计者在电路设计阶段就考虑芯片的测试结构问题，在设计用户逻辑的同时，还要设计测试电路。现代电子设计方法包含可测试设计。内建测试系统(BIST)是SOC片上系统的重要结构之一。JTAG测试接口是IC芯片测试方法的标准。