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Multisim 2001中测试电子器件特性的方法被引量：1

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摘要利用Multisim 2001软件构建电子器件电路,并用直流扫描分析(DC Sweep Analysis)实现对电阻伏安特性、二极管伏安特性、晶体管输出特性的测试。

作者蔡文镇

机构地区福建理工学校

出处《科技资讯》 2008年第26期2-3,共2页 Science & Technology Information

关键词伏安特性曲线仿真测试

分类号 TN02 [电子电信—物理电子学]

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2008年第26期

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