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Si衬底上SiC薄膜的快速生长

Fast Epitaxy of 3C-SiC Grown on Si Substrate
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摘要 用垂直式低压化学气相沉积(LPCVD)系统,在(111)和(100)Si衬底上快速外延生长了SiC.用Nomarski光学显微镜和X射线衍射(XRD)分析了SiC外延膜.探讨了生长速度与反应气体流量的关系,HCl在反应过程中的作用机理,以及在快速生长条件下外延膜的结晶和取向关系.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第z1期218-220,共3页 半导体学报(英文版)
关键词 3C-SIC 快速生长 XRD
  • 相关文献

参考文献6

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