摘要
幅度相误差会影响四元组射频目标模拟器中的最终目标模拟位置的精度。为了最大程度减小幅相误差,采用迭代方法进行校准。迭代校准方法需要各射频器件的实际S21的幅值和相位的实测数据,而高分辨率的数控衰减器和移相器所需测量数据巨大,传统手工测试效率低下且准确度难以保证。为解决此问题,本文设计了一种基于VEE的自动测试系统。
幅度相误差会影响四元组射频目标模拟器中的最终目标模拟位置的精度。为了最大程度减小幅相误差,采用迭代方法进行校准。迭代校准方法需要各射频器件的实际S21的幅值和相位的实测数据,而高分辨率的数控衰减器和移相器所需测量数据巨大,传统手工测试效率低下且准确度难以保证。为解决此问题,本文设计了一种基于VEE的自动测试系统。
出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2012年第S2期429-432,共4页
Journal of Microwaves
基金
国家自然科学基金(60671057)
关键词
目标模拟
自动测试
校准
target simulator
automatic test
calibration