摘要
针对检验异常值的奈尔方法,对出现多个异常值时检验效果不好,产生异常值遮蔽现象,修改其检验统计量。给出了修改后检验统计量的临界值,改进了这个重要的检验方法。
The testing method of many outliers is discussed, and Nail's method of testing the outliers is improved. Its test statistics is revised, and the critical value of the new test statistics is given.
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1993年第1期83-86,共4页
Journal of University of Electronic Science and Technology of China
关键词
异常值
检验
统计量
中位数
均值
outliers
test statistic
median
mean
Nair's method
