TDC-GP1高精度时间间隔测量芯片及其应用被引量：10

TDC-GP1 Chip for Precision Time Interval Measuring and Its Application

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摘要德国 ACAM 公司研发的高精度时间间隔测量芯片TDC-GP1,可提供两通道 250ps 或单通道 125ps 分辨率的时间间隔测量;用户可以很方便地用它构成自己的系统或仪器,因此已在多种高精度测试领域得到了应用(如高精度激光测距仪、频率和相位信号分析等)。文章详细介绍TDC-GP1 的内部结构、工作原理和性能指标,并给出该芯片在测量门电路延迟时间方面的一个应用实例。

作者刘国福张玘刘波

机构地区长沙国防科技大学

出处《单片机与嵌入式系统应用》 2004年第11期38-40,共3页 Microcontrollers & Embedded Systems

关键词时间间隔测量芯片单通道门电路高精度信号分析分辨率 TDC 测试用户

分类号 TN495 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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单片机与嵌入式系统应用

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