同被引文献4
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1章亦葵,张耀陞.基于特征分析的ROM及RAM故障诊断算法[J].电子测量与仪器学报,1995,9(2):26-31. 被引量：5
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2刘卫东.一种固化ROM的误码检验方法[J].微计算机应用,1995,16(1):43-44. 被引量：3
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3邓斌,李演仁.单片机应用电路板故障测试系统研究[J].电子测量技术,1999,22(1):27-31. 被引量：4
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4李璇君,辛季龄,张天宏,刘国刚.RAM的故障模型及自测试算法[J].南京航空航天大学学报,1999,31(1):48-53. 被引量：10
引证文献3
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1毕增军,颜荣江,李桂祥,胡宝珍.带微处理器电路板的故障测试系统[J].航空计测技术,2000,20(6):25-26. 被引量：7
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2肖文杰,盛文,杨江平.一种可编程的通用总线仿真测试系统[J].仪表技术与传感器,2002(3):19-21. 被引量：1
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3毕增军,孙驰,范丽思.用于辐照效应实验的带微处理器电路的故障测试系统[J].电测与仪表,2003,40(2):31-33.
二级引证文献8
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1邓斌,毕增军,黎志荣,盛文.VXI通用总线仿真器的设计[J].空军雷达学院学报,2004,18(3):37-39.
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2蔡希彪,赵悦,唐毅谦.PCB测试方法综述[J].辽宁工学院学报,2004,24(4):32-34. 被引量：4
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3杨茂兴.平显/武器瞄准系统数字板的故障诊断研究[J].电光与控制,2010,17(3):57-59. 被引量：2
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4龚静.S20ATE电路印制板测试系统的应用[J].通信与广播电视,2009(4):35-40.
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5黄玲,田书林,兰京川.含有微处理器的电路板故障诊断方法研究及实现[J].电子质量,2010(6):10-12.
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6董俊,谭业双,蒲秀英,孙健.电台CPU板检测技术研究[J].仪表技术,2010(8):51-53.
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7马飒飒,冯锡智,亢勇,赵守伟.单片机应用电路板的故障诊断方法及实现[J].电子工程师,2002,28(6):22-24. 被引量：1
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8王格芳,吴国庆,王利众.一种电子设备自动测试模型及应用[J].仪表技术与传感器,2003(7):45-47.
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1刘波.头盘间距动态测试算法[J].华中理工大学学报,1989,17(3):117-121.
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2杨迪珂,颜学龙.边界扫描测试算法的分析与优化[J].计算机测量与控制,2017,25(5):4-6. 被引量：8
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3孙克辉,刘璇,朱从旭.The 0-1 test algorithm for chaos and its applications[J].Chinese Physics B,2010,19(11):200-206. 被引量：5
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4许慧雅,廖利.基于超级混沌系统的图像加密算法[J].激光杂志,2015,36(4):79-81. 被引量：3
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5柴云鹏,王坤,李三立.关于高端集群式流媒体服务器仿真的研究[J].小型微型计算机系统,2008,29(7):1185-1189. 被引量：1
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6王天辉,马立元,张延生.基于LabVIEW的存储器检测系统研究[J].现代电子技术,2009,32(24):186-188. 被引量：3
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7贾嫣,张萍,陈蕾.基于改进混沌映射的图像加密算法[J].计算机工程与设计,2015,36(5):1187-1191. 被引量：9
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8佘强,陈护勋.一种时序电路的测试生成算法[J].计算机与数字工程,2001,29(3):26-33. 被引量：1
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9张为.小波变换和神经网络相融合的图像隐写分析[J].激光杂志,2015,36(8):32-35.
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10蒋登峰,周娟.随机存取存储器故障分析及测试方案实现[J].中国计量学院学报,2010,21(3):257-262. 被引量：5
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