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2004第64CEF暨第三届国际电子测试与测量研讨会报导

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摘要电子界传统盛会CEF首度移师上海浦东，2004年11月16～17日第3届国际电子测试与测量研讨会也拉开帷幕。此次研讨会在前两届成功举办的基础上再度扩容，再攀新高。

作者杨雪梅

出处《中国仪器仪表》 2005年第1期88-88,共1页 China Instrumentation

关键词电子测试报导国际研讨会上海浦东成功扩容 CEF 举办

分类号 TG80-2 [金属学及工艺—公差测量技术]

引文网络
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中国仪器仪表

2005年第1期

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