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离子注入浅结制备技术 被引量:1

Fabrication Technology of Shallow Junction by Ion Implantation
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摘要 根据近年来的文献资料总结报道几种离子注入浅结制备技术,即:大角度偏转注入、分子离子注入、双离子注入,通过介质掩膜注入,注入固体源驱入扩散再分布、等离子体浸没离子注入(PIII)和反冲离子注入等。 A number of fabrication technologies of shallow junction by ion implantation are reported in this paper based on recent literatures. These technologies include wide-angle deflection implantation, molecule-ion implantation,dual ion implantation,implantation through dielectric mask , drive-in diffusion redistribution of implantated solid source,PIII and recoil ion implantation , etc.
作者 曾庆高
出处 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1994年第2期125-129,共5页 Semiconductor Optoelectronics
关键词 离子注入 快速退火 浅结 半导体器件 Ion Implantation, RTA, Shallow Junction, Fabrication
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