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基于BGA/CSP封装技术的微型存储测试系统的研制 被引量:3

The Design of Micro Stored Testing and Measuring System Based on BGA/CSP Packaging Technology
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摘要 文中主要研究设计了基于BGA/CSP微小封装技术的微型存储测试系统,并阐述了该系统的设计原理。系统采用CPLD(复杂可编程逻辑器件)与先进球栅阵列封装技术相结合的设计理念,使存储测试系统在微型化、微功耗和微噪声方面有了很大突破,进而拓展了存储测试技术的应用领域。同时指出了存储测试系统进一步微型化的发展趋势。 This paper presents the develop of the micro storage measurement system based on BGA/CSP micro-packaging technology. This essay expatiates on working principle of the testing and measuring system in details. The design of system integrates advanced packaging technology with CPLD ( complex programmable logic device), which is a great breakthrough in micromation and low power and micro-noise. Also, application scale of storage measurement technology is expanded widely. The developing trend on micromation of the stored testing and measuring system was also noticed.
出处 《弹箭与制导学报》 CSCD 北大核心 2005年第2期94-96,共3页 Journal of Projectiles,Rockets,Missiles and Guidance
基金 国家自然科学基金委员会资金项目(50375050)资助
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引证文献3

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