X射线φ扫描及其在高温超导薄膜分析中的应用被引量：1

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摘要Ｘ射线φ扫描及其在高温超导薄膜分析中的应用常世安，陈岗峰，马平，杨坚，古宏伟，袁冠森（北京有色金属研究总院１０００８８）关键词：Ｘ射线衍射，高温超导薄膜Ｘ射线衍射仪的常规θ－２θ扫描只能对平行于试样表面特定晶面进行检测￣［１］．而无法区别是单晶、外延...

作者常世安陈岗峰马平杨坚古宏伟袁冠森

机构地区北京有色金属研究总院

出处《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第6期459-460,共2页 Chinese Journal of Rare Metals

关键词 X射线衍射高TC 超导薄膜薄膜

分类号 TM26 [一般工业技术—材料科学与工程] O657.39 [理学—分析化学]

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稀有金属

1995年第6期

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