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再论电子设备可靠性试验中的几个统计概念 被引量:1

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摘要 在电子设备可靠性试验中,人们常常对验证试验的几个统计参数展开热烈的争论和探讨。本文综合了几种不同的观点,对可靠性试验中的几个统计概念进行了分析、讨论,目的在于搞清概念,求得共识,促进可靠性验证工作的开展。
作者 宁晋建
出处 《飞机设计》 1995年第3期23-27,32,共6页 Aircraft Design
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