Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性

Bl-AlN/TiN(001 ) interfacial structure and electronic properties

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作者陈东马秀良

机构地区中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家实验室

出处《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期349-349,共1页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基金国家杰出青年基金资助项目(No.50325101) 国家重点基础研究发展规划(973)资助项目(No.2002CB613503).

关键词界面结构电子特性物理特性热稳定性立方结构外延生长界面特性显微结构界面材料

参考文献7

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电子显微学报

2005年第4期

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