对固定故障覆盖率的再认识和VLSI功能测试的展望

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摘要在数字系统测试方法研究工作中,门级固定故障覆盖率已被沿用了几十年。本文综述近年来一些学者对此所作的分析。研究结果表明,单凭故障覆盖率,仍难以衡量测试工作的质量。用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的失误率,带有明显的局限性。从实效出发看问题,以100％故障覆盖率为目标的结构测试花费代价很大,仍难以达到满意的结果。功能测试方法有逐渐走向成熟的趋势。

作者刘泽坚

机构地区上海交通大学信控系

出处《微电子测试》 1996年第3期21-25,共5页

基金国家自然科学基金(标准号09376021)研究报告

关键词 VLSI 功能测试故障覆盖率

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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