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准分子激光改变C_(60)薄膜电导率 被引量:3

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摘要 利用紫外激光直接改变材料电导率,具有广泛的应用前景,现正日益引起人们的重视。目前,在这一领域的研究大多集中于各种有机高分子聚合物,C_(60)是最近才出现的新材料。根据能带理论计算,C_(60)晶体为典型的直接能隙半导体,其能隙宽度为1.5eV。但多晶C_(60)薄膜却是良好的绝缘体,其本正电导率低于10^(-7)S·cm^(-1)。最近,Phillips等报道了用248nm的KrF准分子激光提高C_(60)薄膜电导率的实验研究,并提出电导率变化的主要机制是激光诱导的绝缘体-金属相变。 本文进行了准分子激光诱导C_(60)薄膜电导率提高的实验研究。在低于刻蚀阈值的激光脉冲照射下,C_(60)薄膜电导率提高了6个数量级。Raman谱的研究表明:电导率变化的主要机制是C_(60)被光致氧化分解为无定形碳,在较低能流密度的情况下,观察到微晶石墨及C_(60)聚合团簇的形成。
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第8期695-698,共4页 Chinese Science Bulletin
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献2

  • 1Zhou Ping,Appl Phys Lett,1992年,60卷,23期,2871页
  • 2Ren S L,Appl Phys Lett,1991年,59卷,21期,2678页

共引文献1

同被引文献9

  • 1王家金,激光加工技术,1992年,285页
  • 2团体著者,陶瓷导论(译),1987年,125,852页
  • 3莫以豪,半导体陶瓷及其敏感元件,1983年,5页
  • 4团体著者,稀有金属应用.上,1974年,190页
  • 5饶渡崎,钒冶金原理(译),1962年,4页
  • 6Phillips H M,Proc SPIE.2888,1996年,404页
  • 7团体著者(译),陶瓷导论,1987年,125,852页
  • 8莫以豪,半导体陶瓷及其敏感元件,1983年,5页
  • 9团体著者,稀有金属应用.上,1974年,96页

引证文献3

二级引证文献17

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