专用集成电路知识介绍(续六)

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摘要 (2) 开关特性测试的测试图案现以图4—17为例,说明用于开关特性测试的测试图案设计方法。 ①在被测输入和输出波形的沿上标以“o”。 ②在预定位置指定被测引腿间延迟时间,例如表中引腿1至引腿21的延迟时间为15ns,引腿1至引腿51的延迟时间为23ns。 ③开关测试点的数目有一定限制。 ④在进行开关测试的时候,仅仅开关测试的输入信号可以变化。 (3)

作者朱家维

机构地区清华大学计算机系

出处《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 1989年第7期56-64,F003,共10页 Journal of Chinese Computer Systems

关键词集成电路专用集成电路

分类号 TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]

引文网络
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小型微型计算机系统

1989年第7期

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