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基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究

Testing Serial EEPROM based on Nios Ⅱ
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摘要 文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于Nios Ⅱ软核CPU测试Serial EEPROM 的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点。在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案。 A test method about serial EEPROM is described. It's advanced to test EEPROM based on Nios Ⅱ soft CPU core The advantages of this method are high reliability, less components required programmable and low cost. It is an alternative test solution with high value/cost ratio which can be used to replace expensive test system on Serial EEPROM mass test.
出处 《电子与封装》 2006年第5期16-18,共3页 Electronics & Packaging
关键词 SERIAL EEPROM 测试 NIOS CPU软核 编程 Serial EEPROM Test Nios Ⅱ CPU Soft Core Program
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