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基于边界扫描技术的数字系统测试研究 被引量：4

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摘要 介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现。
作者 倪军 杨建宁
机构地区 皖西学院机械与电子工程系 江苏大学电气信息工程学院
出处 《电子技术应用》 北大核心 2006年第9期107-110,共4页 Application of Electronic Technique
关键词 边界扫描测试 IEEE1149.1标准(JTAG标准) 可测性设计 集成电路
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献6

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二级参考文献11

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共引文献25

同被引文献17

引证文献4

二级引证文献19

电子技术应用
2006年 第9期

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