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热电元件性能测试系统的电路设计 被引量:2

Circuit Design for Significance Test System of Thermo Element
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摘要 由于材料不稳定,热电元件须由测试系统完成性能筛选。介绍的热电元件测试系统用0.01mm的激光小光斑,在4耐的元件表面进行400个点的扫描,将元件电信号输入计算机进行性能分析。该测试系统的第一个关键技术是:设计一个每步行程为0.005mm,扫描点距为0.1mm的二维扫描平台小住移精密控制电路。另一方面,元件输出信号极为微弱,只有1-100μVpp,必须有高增益的放大电路,将输出信号放大到后端AZD电路所能接受的范围(0~10V)内,并避免干扰造成信号失真,这是系统的另一关键技术。就上述2个技术问题作详细介绍和分析,成功地解决了上述问题,并经实际使用取得很好的效果。 As for instable material, thermo elements have to significance fdtration by test system. Here it is significance test system of thenno element which scan by laser facular in 0.01 mm on the surface of 4 square mm with 400 points. Then signal inputs computer for significance test. In the first place, the first key technology of the test system is to design little stepping exact control circuit with 2 - demenaion scanning flat in 0.005mm every step,and in 0. 1 mm scanning point. On the other hand,output signal of element is small with 1 - 100 vpp It is necessary to have high gain amplifying circuit to amplify output signal to the scope between 0 - 10V, which A/D Circuit could be accepted, in order to avoid signal distortion by disturbance. The another key technology of the test system is mentioned above. Thesis described and analyzed in details about two technologies. And also, it is settled above questions, and achieved good effects in practical application.
出处 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2006年第12期52-55,共4页 Instrument Technique and Sensor
关键词 热电元件 测试 系统 电路设计 thermo element significance test system circuit design
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献5

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共引文献14

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引证文献2

二级引证文献13

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