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用光散射法研究WO_3膜的微粗糙结构及其对变色特性的影响

Study on the Relationship between the Specifications of Electrochromatic Layer WO3and Its Surface Microroughness with the Method of Light Scattering Detection
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摘要 本文使用光散射空间分布自动测量系统对由热蒸发得到的电致变色层WO3的散射及微粗糙结构分布作了测量和分析。依据实验结果探讨了该结构与其变色特性的关系。 The author analyzed the microroughness structure of heat vaporized electrochromatic layer WO3through measuring the angular distribution of its scattering, and discussed the relationship between the specifications of WO3and its microroughness status.
作者 赵德康
出处 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第5期298-301,324,共5页 Journal of Optoelectronics·Laser
关键词 电致变色器件 变色特性 光散射法 功能薄膜器件 Electrochromatic layer, surface microroughness, scattering measurement
  • 相关文献

参考文献3

  • 1赵德康,博士学位论文,1994年
  • 2周月明,硕士学位论文,1994年
  • 3顾培夫,薄膜技术,1990年

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