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浅谈高压硅整流设备二次高压的测量及高压表校准方法

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摘要本文通过对高压硅整流设备二次高压测量的原理及其波形的分析，并对几种测量仪表的原理进行了讨论，得出选用磁电系仪表来测量二次高压的结论。由实验数据提出校表的必要性，并针对不同负载情况下，根据各负载二次高压波形分析及数学计算，论证出校表的具体方法。

作者郭知初

机构地区大连电子研究所

出处《大连电子技术》 1996年第1期5-7,共3页

关键词高压硅整流设备二次高压测量校准

分类号 TN350.7 [电子电信—物理电子学] TM461.06 [电气工程—电器]

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大连电子技术

1996年第1期

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