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X射线荧光光谱分析进展
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摘要
90年代以来,随着电子技术和电子计算机的飞速发展,X 射线光谱仪,X 荧光分析技术和计算机软件方面的进步是十分引人注目的。世界各主要仪器制造商相继推出了由计算机控制的高智能化、自动化和小型化的新一代产品,如 PW2600,PW2400,RIX3000,SRS3000,ARL8410等仪器。
作者
谢荣厚
高新华
邬时海
机构地区
冶金部钢铁研究总院
冶金部自动化研究院
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第2期34-38,共5页
Metallurgical Analysis
关键词
X射线光谱仪
荧光光谱法
分类号
TH744.15 [机械工程—光学工程]
引文网络
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