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对于SoC,尺寸决定一切
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摘要
采用90nm和65nm工艺的决定因素是什么?商业和技术的推动;定义最优裸片尺寸;裸片尺寸优化新方法;
作者
Bernadette Mortell
机构地区
Synopsys公司
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2007年第4期178-178,180,181,共3页
EDN CHINA
关键词
尺寸优化
SOC
65nm工艺
技术
商业
定义
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子设计技术 EDN CHINA
2007年 第4期
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