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低压高速CMOS/SOI器件和电路的研制 被引量:1

Development of Low-Voltage and High-Speed
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摘要 采用全耗尽CMOS/SIMOX工艺成功地研制出了沟道长度为0.5μm的可在1.5V和3.0V电源电压下工作的SOI器件和环形振荡器电路.在1.5V和3.0V电源电压时环振的单级门延迟时间分别为840ps和390ps.与体硅器件相比,全耗尽CMOS/SIMOX电路在低压时的速度明显高于体硅器件,亚微米全耗尽CMOS/SOI技术是低压低功耗和超高速集成电路的理想选择. The low voltage high performance 0. 5μm CMOS full depleted (FD) SOI/ SIMOX devices, ring oscillators with 1. SV and 3. 0V supply voltage have been developed. Both N-and P-MOSFETs have well-behaved characteristics. The propagation delay perstage of 19-stage CMOS/SIMOX ring oscillator are 840ps and 390ps with 1. 5V and 3V supply voltage, respectively. The speed of FD CMOS/SIMOX ring oscillator is much faster than CMOS/bulk's in the field of low voltage. Insummary, the submicron fully depleted CMOS/SOI technology is the ideal choice of high speed, low voltage and low power integrated circuits.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期124-127,共4页 半导体学报(英文版)
  • 相关文献

参考文献5

  • 1奚雪梅,徐立,武国英,李映雪,王阳元.自对准硅化物CMOS/SOI技术研究[J].Journal of Semiconductors,1995,16(4):291-295. 被引量:2
  • 2张兴,电子学报,1995年,23卷,11期,139页
  • 3张兴,电子学报,1995年,23卷,8期,25页
  • 4武国英,SOI技术(译),1994年
  • 5Chen J,IEDM Tech Dig,1992年,35页

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