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日立高新技术可进行稳定纳米级分析的透射式电子显微镜上市

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摘要 2007年5月14日，日立高新技术（HitachiHighTechnologies）推出新型场发射型透射式电子显微镜（FE—TEM）“HF-3300型”，分辨率为0．1nm、能够以纳米级别的分辨率稳定地分析原子水平的极微小材料。

出处《现代仪器》 2007年第4期74-74,共1页 Modern Instruments

关键词透射式电子显微镜日立高新技术纳米级上电子显微镜上市

分类号 TH741.7 [机械工程—光学工程]

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现代仪器

2007年第4期

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