摘要
本文针对一种准单输入跳变序列测试生成器的测试缺点,提出了一种改进的设计方案并且利用EDA技术在FPGA芯片上进行了设计实现。
This paper gives an improvement on the test generator which can produce pseudo singleinput-change sequence ,and this design is realized on FPGA chip by EDA technique.
出处
《电子质量》
2007年第10期34-35,共2页
Electronics Quality
