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BIT技术的发展现状与应用分析 被引量:16

Analysis of Development and Application of BIT Technology
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摘要 BIT技术的性能主要从故障探测、故障定位(针对单一的外场可更换单元)、虚假警报、以及错误诊断等方面加以说明。对于正确隔离故障来说,BIT所制定的目标会随着BIT等级的不同而有所变化。BIT等级越低,正确隔离故障的总体能力就越低;BIT等级越高,正确隔离故障的总体能力就越高。 BIT technology capability is explained in areas of fault detecting, fault orientation (aim at outfield replaceable unit), fault alarm, and error diagnosis. According to the isolation fault, BIT target is different based on BIT grade. If the BIT grade is lower, the general isolation fault ability is lower; if the BIT grade is higher, the general isolation fault ability is higher.
出处 《兵工自动化》 2008年第4期5-7,共3页 Ordnance Industry Automation
关键词 机内测试(Built—In Test) 虚警 故障诊断 人工智能 Built-in test (BIT) Fault alarm Fault diagnosis Artificial intelligence
  • 相关文献

参考文献2

  • 1孙洁.航天测控内装自测试与自诊断系统[Z].北京航天测控技术开发公司.
  • 2Kerry. Westervelt. F / A-18D(RC)Built-in Test False Alarms[D]. Naval Air Warfare Center Aircraft Division.2000, MD20670-1624: 2961-2970.

同被引文献102

引证文献16

二级引证文献69

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