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掺Er的In1—xGaxP的光致发光性能

PHOTOLUMINESCENT PROPERTIES OFEr-DOPED IN1-xGAxP
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摘要 金属有机化学气相淀积用于制备掺Er的In1xGaxP外延层。低温下,研究了温度与光致发光性质的关系作为合金成分的函数,其中合金成分为x=0-0.98,发现所有掺Er的In1-xGaxP外延层都在0.801eV处有一上强光致发光峰,与合金成分无关,295K时观测到In0.52Ga0.48P样品的Er^3+离子的光致发光特征峰,发光强度明显降低。 he Er-doped In1-x GaxP layers have been prepared by atmospheric pressure metallorganic chemical vapor deposition.Temperature-dependent photoluminescent propeties were studied as a function of alloy composition for x=0~0.98.All the Er-doped In1-x GaxP layers exhibited strong PL emission at 0.801eV which was independent of the alloy composition.For In0.48 Ga0.52P alloy Er3+-related luminescence is observed at 295K.
机构地区 哈尔滨师范大学
出处 《哈尔滨师范大学自然科学学报》 CAS 1998年第2期37-39,共3页 Natural Science Journal of Harbin Normal University
关键词 光致发光 化合物半导体 MOCVD Ⅲ-Ⅴ族化合物 Rare earth Photoluminescence Metallorganic chemical vapor
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