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干法刻蚀中静电吸盘对产品良率的影响 被引量:2

ESC’s Influence to Production in Poly Etch and Methods to Improve ESC’s Lifetime
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摘要 在VLSI制造过程中,静电吸盘(ESC)以其良好的热传导性及较少的缺陷产生率已广泛应用于ETCH、CVD等制程中。文章以LAM Research公司TCP9400等离子刻蚀机在多晶硅刻蚀的生产实践为例,分析了这种双极性静电吸盘(bipolar-ESC)的结构特点和其工作原理,并逐一分析了在其使用过程中各参数补偿电压、夹持电压、冷却气体等对产品良率的影响,并提出了对生产过程的监控参数,以达到及时发现问题、解决问题的目的。 In the modern VLSI manufacturing, ESC have been widely used in ETCH, CVD process for its good heat transfer, uniformity control, and low defect production. ESC plays a very important rule in the process chamber system. Based on LAM TCP9400 etcher on polysilicon mass production, this paper analyses that how the bipolar-ESC influences the production under different parameter settings, and how to monitor the problems of the ESC system.
出处 《电子与封装》 2009年第3期32-35,共4页 Electronics & Packaging
关键词 静电吸盘 双极性 夹持电压 偏压补偿 冷却气体 ESC chucking voltage bias voltage leakage current lifetime
  • 相关文献

参考文献3

  • 1G.A.Wardly.Electrostatic wafer chuck for electron beammicrofabrication[].The Review of Scientific Instruments.1973
  • 2F.A.Johnsen,,K.Rahbek. J.Inst Electr.Eng . 1923
  • 3Shu Qina,Allen McTeer.Wafer dependence of Johnsen-Rahbek type electrostatic chuck for semiconductor processes[].Journal of Applied Physics.2007

同被引文献4

引证文献2

二级引证文献2

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