期刊文献+

机械制造领域测量技术的发展分析 被引量:4

下载PDF
导出
摘要 测量技术是机械制造领域中的最重要的部分,如果没有测量技术,就像人没有眼睛一样,什么都看不见,什么都制造不出来,随着目前我国日益发展的经济,测量技术的重要性就毫无疑问的成为了我国机械制造领域中能更快更飞速发展下去的关键,所以本文就主要对机械制造领域中的测量技术的发展进行了分析。
作者 谢荣亮
出处 《工业设计》 2012年第3期85-85,共1页 Industrial Design
  • 相关文献

参考文献4

  • 1林玉池.测量控制与仪器仪表前沿技术及发展趋势[M]天津:天津大学出版社,2008.
  • 2中国科学技术协会.仪器科学与技术学科发展报告200每2007[M]北京:中国科学技术出版社,2007.
  • 3张国雄,裘祖荣.测试技术的社会作用及发展方向[J].工具技术,2004,38(9):13-23. 被引量:14
  • 4罗小川;刘兴刚.网络制造模式下的分布式测量系统建模与优化技术[M]北京:冶金工业出版社,2007.

二级参考文献41

  • 1HockenRobertJ,王春海.亚原子测量机的进展(英文)[J].纳米技术与精密工程,2003,1(1):1-6. 被引量:3
  • 2范光照,朱志良,钟添东.小型微/纳米级三坐标测量机的研制[J].纳米技术与精密工程,2003,1(1):17-23. 被引量:19
  • 3Tonshoff H K, Friemuth T, Becker J C.Process monitoring in grinding.2002, CIRP Annals 51(2):551-571
  • 4Taniguchi N et al.On the basic concept of nanotechnology. Proc. ICPE, Tokyo,1974
  • 5Zhang G X, Fu J Y.A method for optical CMM calibration using a grid plate.Annals of the CIRP, 2000,49(1):399-402
  • 6Corbett J, McKeown P A, Peggs G, Whatmore R. Nanotechnology: international development and emerging products.CIRP Annals,2000,49(2):523-545
  • 7Young R, Ward J, Scrie F. The topografiner: An instrument for measuring surface microtopograpy.Review of Scientific Instruments, 1972, 43:999
  • 8Bining G, Rohrer H, Gerber Ch, Weibel E. 7×7 Reconstruction on Si(111) resolved in real space.Physics Review Letters, 1983, 50:120
  • 9Bining G, Quate C F, Gerber Ch. Atomic force microscope.Physics Review Letters, 1986,56:930
  • 10Van Brussel H, et al, Assembly of micro-systems. CIRP Annals 2000,49(2):451-472

共引文献13

同被引文献7

引证文献4

二级引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部