期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

光数字半导体0.10微米器件测试技术

下载PDF

导出

摘要项目所有人：杨文革所在国：美国专业：半导体工业学历：博士已申请专利项目简介：对0．10微米以下的半导体制作，测量元件的关键尺寸已成为一个很大的挑战。现有的设备已经没有能力提供准确的测量结果。

出处《电脑与电信》 2009年第4期24-24,共1页 Computer & Telecommunication

关键词半导体工业测试技术微米器件测量元件关键尺寸

分类号 F416.63 [经济管理—产业经济] TQ174.758 [化学工程—陶瓷工业]

引文网络
相关文献

1直击现场[J].现代制造,2007(17):20-22.
2春江.严格质量监控确保优质交付[J].质量与可靠性,1996(1):9-9.
3杨锋.基于PVC制品废料磨粉机磨盘的研制与应用[J].塑料制造,2014(9):68-70.
4雷沅忠,易昌练.超导丝连续式氦液面计的研制经验[J].低温与超导,1990,18(2):23-27.
5毛建荣.利用搪瓷底阀改造加装测温元件的设计方案[J].江苏氯碱,1999(3):27-29.
6郭建娥.测绘新技术在国土资源管理中的应用分析[J].中小企业管理与科技,2016(35):164-165. 被引量：8
7罗晓兰,陈建义,时铭显.高效低阻旋风分离器的试验与开发[J].石油大学学报（自然科学版）,1999,23(4):56-58. 被引量：3
8瞿承平.PYS—80应力代测量元件老化的标定[J].中国玻璃,1991(3):34-35.
9王伟行.化工生产中温度测量元件的选择与安装[J].天津化工,2007,21(3):45-46. 被引量：3
10崔毅斌,李刚.超大型设备现场组焊的质量控制[J].石油化工设备技术,2011,32(5):50-52. 被引量：1

电脑与电信

2009年第4期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部