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差温生长法制备 1.55 μm InP/InGaAsP/InP 激光晶片 被引量:1

1 55 μm InP/InGaAsP/InP laser wafer prepared by differential temperature growth
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摘要 采用差温生长法制备了1.55μmInP/InGaAsP/InP双异质结激光晶片.差温生长法是在高温(约626℃)状态下生长InGaAsP有源层;然后降低温度,在低温(约600℃)状态下生长P-InP上限制层.此方法有效地解决了这种结构长波区(λ>1.45μm)的回熔问题,并克服了其他方法的缺点. Differential temperature growth, a new LPE method, is used to prepare 1 55 μm InP/InGaAsP/InP double heterostructure laser wafer InGaAsP active layer and P InP upper confining layer are grown respectively at high temperature( ̄626℃) and low temperature ( ̄600℃) It can effectively solve the melt back problem of longer wavelength range ( λ >1 45 μm) of this structure and overcomes the weakness of other methods
出处 《大连理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期270-272,共3页 Journal of Dalian University of Technology
基金 "八六三"国家高技术项目
关键词 半导体激光器 差温生长法 激光晶片 semiconductor lasers wafers/melt back InP/InGaAsP/InPdifferential temperature growth
  • 相关文献

参考文献1

  • 1邢启江,半导体光电,1990年,11卷,4期,324页

同被引文献2

引证文献1

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