期刊文献+

93k集成电路测试系统校准原理及实现方法研究 被引量:1

Research on Principle and Method of Calibration on 93k IC Test System
下载PDF
导出
摘要 介绍了93k集成电路测试系统校准原理与实现方法,讨论了校准过程中的量值传递关系;以HPP-MU为例,给出了量值传递的实现过程,并分析了93k校准原理与方法在确保量值准确、一致性上的优点。 Describes the principle and method of calibration on 93k IC test system,and discusses the relations of dissemination of the value of a quantity. It also takes HPPMU for example to illuminate the process of dissemination of the value of a quantity, finally analyses the advantages of the presented method for calibration on 93k IC test system.
出处 《宇航计测技术》 CSCD 2009年第3期66-69,共4页 Journal of Astronautic Metrology and Measurement
关键词 校准 基准 内部参考源 中间参量 系统参量 Calibration Premier standard Internal reference Interim parameter System pa-rameter
  • 相关文献

参考文献3

  • 1贺志容,沈森祖,韩宏星,等.93000集成电路测试系统检定方法研究[C].2007计量与测试学术交流会论文集,2007:187-189.
  • 2Verigy coporation, NIST Traceable Calibration, Verigy V93000 Service Guide.
  • 3贺志容,韩红星,胡勇.93k集成电路测试系统参考源校准方法研究[C].第五届中国测试学术会议论文集:213-215.

共引文献1

同被引文献12

引证文献1

二级引证文献4

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部