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Ⅱ类洞充填体示踪剂微渗漏评价与扫描电镜定量分析的比较

Microleakage of Class II Restorations with Different Tracers - Comparison with SEM Quantitative Analysis
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摘要 目的:①比较Ⅱ类洞充填体微渗漏体外试验中最常用的三种示踪剂的渗透深度(DP)和扫描电镜(SEM)定量分析数据间的差异;②根据得到的结果评估上述两种试验方法对含有12个样本的资料的辨别能力。材料和方法:在36颗无龋离体下颌第一磨牙上制备标准的11洞型,近中龈阶位于釉牙骨质(CEJ)上1mm,远中龈阶位于CEJ下1mm,验面宽度为牙尖间距离的70%,用TericEvoceram/AdhesE树脂水平分层充填,每层厚度为2mm,光照20s(1200mW/cm^2),完成充填后用细金刚砂钻和金刚砂盘抛光。所有样本进行验向加载试验(1200000循环,49N/1,7HzJ和模拟温度循环试验f3000个循环,5℃/55℃)。用扫描电镜fSEM)评价牙颈部釉质和牙本质的连续性边缘的百分寿命。将测试牙浸泡于三种示踪剂中进行渗透,三种示踪剂分别是0.5%碱性品红(24h,37℃),2%亚甲基蓝(24h,37℃)和50%硝酸银溶液(4h,37℃,之后置于显影液中Bh,再荧光照射过夜)。将牙近远中向剖开两次。在立体显微镜下测量示踪剂的渗透深度并计算每一位点的平均值。由于数据的多相性和非正态分布,SEM和渗透深度的数据都经过相应的数据转换。根据标准差和统计学误差计算样本量。结果:示踪剂中品红和硝酸银在牙本质界面的渗透深度与SEM的结果有可接受的相关性,统计值分别为Pearson=-074,P〈0.01和Pearson=-0.79,P〈O01。而SEM数据与亚甲基蓝渗透结果没有相关性。三种示踪剂在釉质界面的示踪渗透深度与SEM的结果均没有相关性,三者间的差异也无统计学意义(KruskalWallis,P〉0.05)。三种示踪剂在牙本质界面的渗透深度显著高于在釉质界面的渗透(WiIcoxon,P〈0.05)。当示踪剂样本量为12个标本时,示踪剂渗透仅能在釉质边缘1mm和牙本质边缘2mm的范围内对不同材料有所区分。结论:在牙本质边缘用品红或硝酸银作为渗透的示踪剂与SEM定量边缘分析问有中等相关性,在釉质边缘则无相关。
出处 《中国口腔医学继续教育杂志》 2009年第3期16-22,共7页 Chinese Journal of Stomatologial Continuing Education
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