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电磁脉冲作用下计算机死机故障研究

Study on computer breakup under EMP
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摘要 为研究核电磁脉冲对计算机系统的效应,利用核电磁脉冲源产生的模拟核电磁脉冲,对单片机系统进行了辐照效应实验。实验表明,单片机系统在核电磁脉冲作用下,可出现死机等多种故障现象。在实验的基础上,分析了死机产生的原因及加固方法,并通过实验验证了指令冗余、软件陷阱和看门狗等措施对防止单片机死机的有效性。 In order to study the electromagnetic pulse(EMP) effects to computer systems, using nuclear electromagnetic pulse(NEMP) generated by NEMP source, the irradiation effects experiments to single chip computer system are made. The experiments show that various kinds of failures such as breakup may be occurred when single chip computer system is irradiated by NEMP. Based on the experiments, the reason of breakup and hardening technology are studied. The validity of instruction redundancy, software trap and watchdog for anti-breakup are validated by experiments.
作者 侯民胜 田宇
出处 《航天电子对抗》 2009年第6期47-49,57,共4页 Aerospace Electronic Warfare
关键词 核电磁脉冲 单片机系统 死机 加固 nuclear electromagnetic pulse single chip computer system breakup hardening
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  • 1魏明,刘尚合,翟景升,武占成.雷电电磁脉冲对数字电路的干扰机理研究[J].军械工程学院学报,2000,12(2). 被引量:4
  • 2潘晓东 ,魏光辉 ,张希军 ,薛田 .有界波模拟器频率特性研究[J].军械工程学院学报,2005,17(6):25-28. 被引量:10
  • 3申菊爱 黄文华.数字集成电路的高功率微波损伤效应[J].高功率微波技术,1999,1:15-20.
  • 4李彦学,智墩旺.无线电与电子时间引信[M].北京:兵器工业出版社,1996.131~132.
  • 5张希军 刘尚合.雷电电磁脉冲的计算机仿真.军械工程学院学报,2004,16(3):59-63.
  • 6Smith I. Pulse power in the united states[C]. 10 th IEEE Int pulse power conf San Diego. California, USA, 1999.
  • 7Tabata Y, Tomita H. Malfunctions of high impedance circuits caused by electrostatic discharges[J]. Journal of Electrostatic, 1999(24) :155-156.
  • 8Wilson P F, Ma M T. Fields radiated by electrostatic discharges [J]. IEEE Trans on EC, 1998, 33(1): 10-18.
  • 9Ishigami S, GokitaR, Nishiyama Y, et al. Measurements of fast transient electric fields in the vicinity of short gap discharges [J]. IEICE Trans on Commun, 1995, 78(2): 199-206.
  • 10王莹.高功率脉冲电源[M].北京:国防工业出版社,1999.

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