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泰克展示新的高速串行测试解决方案

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摘要泰克公司日前宣布,在2010年1月29日-30日举行的富士康仪器设备展和研讨会上展示了新的高速串行测试解决方案。此次展览在富士康深圳工业园区举办，并同期开设了热门解决方案专题讲座。有将近一千位富士康的各级员工参加了这次活动。

出处《电子测试》 2010年第3期96-96,共1页 Electronic Test

关键词测试解决方案泰克公司串行富士康仪器设备工业园区专题讲座

分类号 TM933 [电气工程—电力电子与电力传动]

引文网络
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电子测试

2010年第3期

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