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电子设备BIT验证技术研究

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摘要 简要分析了对电子设备中的BIT系统进行技术验证的必要性,比较了目前应用较普遍的几种验证技术,指出基于后驱动技术的故障注入方法是BIT验证技术中的一个重要的发展方向。
出处 《黑龙江科技信息》 2010年第18期2-2,共1页 Heilongjiang Science and Technology Information
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参考文献3

二级参考文献10

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  • 9李璇君,辛季龄,张天宏,刘国刚.RAM的故障模型及自测试算法[J].南京航空航天大学学报,1999,31(1):48-53. 被引量:10
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共引文献18

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