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集成电路高温动态老化测试系统的设计

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摘要为了替换早期失效的IC芯片,进一步提高整机的产品质量,文章针对系统采用的上位机、下位机,通过串口通信,构成分散式检测系统,对IC芯片进行高温老化并检测。并且本系统已成功应用于本公司筛选室对入厂的IC芯片进行老化筛选,测试出效果良好。

作者潘志强

机构地区陕西长岭电子科技有限责任公司

出处《企业技术开发（下半月）》 2010年第6期19-20,共2页

关键词集成电路高温老化动态测试

分类号 TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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企业技术开发（下半月）

2010年第6期

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