离子减薄法制备复合材料透射样品

PREPARATION OF COMPOSITES TEM SPECIMEN BY LON-THINNING

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摘要介绍了采用离子减薄法制备SiC/Al复合材料预制丝透射电镜样品的工艺过程及工艺参数. Parameters for ino beam thinning preparation of TEM sample of SiC/Al.composites are given in this paper.

作者杨广胡君遂堵永国张家春

机构地区国防科技大学材料工程与应用化学系

出处《理化检验（物理分册）》 CAS 1999年第3期121-122,共2页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)

关键词离子减薄法复合材料 TEM样品金属基微结构 Ion-thinning Composites TEM sample

分类号 TB331.02 [一般工业技术—材料科学与工程]

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