国内半导体器件的可靠性筛选技术被引量：7

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摘要回顾了８０年代以来国内器件厂广泛应用的在高可靠器件发展过程中已发挥了重要作用的可靠性筛选技术。

作者丁继善

机构地区成都无线电三厂

出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第3期55-57,共3页 Semiconductor Technology

关键词筛选项目筛选条件半导体器件可靠性

同被引文献61

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半导体技术

1999年第3期

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