快捷可编程逻辑阵列智能测试系统

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摘要用于解决可编程逻辑阵列测试问题的大容量设计测试技术近年来得到了发展。但是在使用这些程序时,对目标值的多种要求使得选择一个最合适的合成值仍然非常困难。为了使用户能熟练地掌握这类技能,有一种轻松方便的对PLA进行测试的ETPISS可供用户使用。这就是快捷可编程逻辑阵列(PLA)智能测试系统(ETPISS)。

作者刘向东

机构地区山西医科大学第一医院

出处《山西电子技术》 1999年第3期29-30,32,共3页 Shanxi Electronic Technology

关键词可程逻辑阵列 ETPISS PLA 智能测试系统

分类号 TN791.07 [电子电信—电路与系统]

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