摘要
随着深亚微米工艺的广泛应用,持续攀升的软错误率对宇航设备的电路可靠性造成了极大影响。针对现有冗余防护技术面积开销大的不足,将概率统计的思想运用到有限状态机(FSM)的软容错设计上,提出了选择部分状态冗余的容错方法。在Markov链模型的基础上,计算出各状态概率,从而为状态冗余提供依据。与未经选择状态冗余的电路相比,以平均增加14.9%的面积开销为代价,这种电路可屏蔽87.6%的时序逻辑单翻转(SEU)。
Since deep submicron technology is widely used in microprocessors,increasing soft error rate greatly affects the reliability of controllers.In this paper,the idea of statistical probability is applied to soft fault-tolerant design for finite state machine（FSM）.Based on a Markov chain model,a redundancy state selection method is proposed.Compared with the original circuit,this design can mask 87.6% single event upset（SEV） at the cast of additional 14.9% area overhead in average.
出处
《宇航学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第3期665-670,共6页
Journal of Astronautics
基金
国家自然科学基金资助项目(60876028)
博士点基金资助项目(200803590006)
国家自然科学基金重点资助项目(60633060)
安徽省海外高层次人才项目(2008Z014)
